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致新ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪致新ZX38A-CV半导体C-V特性测试仪：使用自动平衡电桥技术及四端对开尔文测试端、测量频率范围涵盖20Hz~2MHz，最小分辨率1mHz，基本测量精度可达0.05%。本仪器还可以测试MOS管的输入电容Ciss，输入电阻Rg等参数。同时提供了内置±10VDC电压源方便客户测试3端管子。

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2024-11-24

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致新阻抗分析仪ZX8210 30MHz 致新阻抗分析仪ZX8210 30MHz的绘图功能和LCR表测量功能，其高精度、宽频率范围可以满足元件与材料大部分低压参数的测量要求，可广泛应用于诸如电感器、电容器、电阻器、传声器、谐振器、液晶显示器、变容二极管、变压器等进行阻抗性能的研究分析及生产线QC检验。

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致新高频精密阻抗分析仪ZX8590 致新高频精密阻抗分析仪ZX8590使用自动平衡电桥技术及四端对开尔文测试端、测量频率范围涵盖20Hz~25MHz，最小分辨率1mHz，基本测量精度可达0.05%。

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致新超声阻抗分析仪ZX70A ZX80A (5MHz) 致新超声阻抗分析仪ZX70A ZX80A (5MHz)主要用于铁电晶体、压电陶瓷、压电晶体、超声波换能器等器件的阻抗分析与测试，是对压电器件和设备进行频率扫描和阻抗测量分析的解决方案，可以快捷方便地测试压电器件的各项参数特性。

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致新超声阻抗分析仪ZX70A (500kHz) 致新超声阻抗分析仪ZX70A (500kHz)主要用于铁电晶体、压电陶瓷、压电晶体、超声波换能器等器件的阻抗分析与测试，是对压电器件和设备进行频率扫描和阻抗测量分析的解决方案，可以快捷方便地测试压电器件的各项参数特性。

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