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天瑞EDX 2000A能量色散X荧光光谱仪

  • 产品型号:
  • 更新时间:2024-11-27

简要描述:天瑞EDX 2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析,满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动,双激光定位和保护系统。

产品详情

天瑞EDX 2000A能量色散X荧光光谱仪

 

产品说明、技术参数及配置

 

天瑞EDX 2000A能量色散X荧光光谱仪(全自动微区膜厚测试仪)对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单及复杂形态的样品进行快速对焦精准分析,满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。通过自动化的XYZ轴的三维移动,双激光定位和保护系统。

 

应用领域

电镀行业、电子通讯、航天新能源、五金卫浴、电器设备

汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等

 

超高硬件配置

采用Fast-SDD探测器,高达129eV分辨率,能精准地解析每个元素的特征信号,针对复杂底材以及多层复杂镀层,同样可以轻松测试。

搭配大功率X光管,能很好的保障信号输出和激发的稳定性,减少仪器故障率。

高精度自动化的XYZ轴的三维联动,更精准快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点的定位。

 

设计亮点

上照式设计,可适应更多异型微小样品的测试。相较传统光路,信号采集效率提升2倍以上。可变焦高精摄像头,搭配距离补正系统,满足微小产品,台阶,深槽,沉孔样品的测试需求。可编程自动位移平台,微小密集型可多点测试,大大提高测样效率。自带数据校对系统。

 

软件界面

人性化的软件界面,让操作变得更加便捷。

曲线的中文备注,让您的操作更易上手。

仪器硬件功能的实时监控,让您的使用更加放心。

 

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