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更新时间：2024-11-26简要描述：MICROTEST/益和匝间短路测试仪 7750系列检测技术采用方式为『非破坏性、高速脉冲电压与阻尼振荡波形比对』施加脉冲电压于绕组线圈的两端，在不破坏被测物的条件下，透过L/C谐振产生阻尼衰减振荡波形，进行标准品与被测物比对两者间的瞬间波形，在产品寿命性质量下提前检出层间短路、内部线圈或磁芯绝缘瑕疵的不良品。
MICROTEST/益和匝间短路测试仪 7750系列产品简介
同系列型号：7750-1 7750-5 7750-10
‒最小电感值≥0.2μH
‒电压补偿功能
‒崩溃电压测试
‒稳定极速测试：7次/秒
‒仪器内建可储存128组测试波形
‒USB Host快速存取测试画面
‒五种波形比对，检测绕线组件层间短路不良
7750层间短路测试仪检测技术采用方式为『非破坏性、高速脉冲电压与阻尼振荡波形比对』施加脉冲电压于绕组线圈的两端，在不破坏被测物的条件下，透过L/C谐振产生阻尼衰减振荡波形，进行标准品与被测物比对两者间的瞬间波形，在产品寿命性质量下提前检出层间短路、内部线圈或磁芯绝缘瑕疵的不良品。
MICROTEST/益和匝间短路测试仪 7750系列参数
型号 | 脉冲电压 | 最小电感量 |
可程式化 | ||
7750-1 | 10V-1200V | ≥0.1μH |
电压解析度 0.1V | ||
******0.028焦耳 | ||
7750-5 | 100V-5200V | ≥10μH |
电压解析度 1V | ||
******0.5焦耳 | ||
7750-10 | 200V-10000V | ≥20μH |
电压解析度 5V | ||
******2焦耳 | ||
|
|
|
脉冲电压精准度 | ±（1% of setting＋5V） | |
7750-1 | ||
±（1% of setting＋10V） | ||
7750-5 | ||
±（1% of setting＋20V） | ||
7750-10 | ||
基本量测时 | 7次/秒 | |
脉冲施加数 | ******32 | |
波形采样率 | 200MHz/9 bit | |
输入阻抗 | 20MΩ | |
测试项目 | 总面积比对 | |
面积差比对 | ||
二阶微分比对 | ||
电晕数比对 | ||
支援崩溃电压测试 | 支援此功能 | |
Remote 信号 | Remote输出信号 | |
PASS/FAIL/TEST/READ/HV ON | ||
| ||
Remote输入信号 | ||
START/STOP | ||
内建储存 | 128组 | |
界面 | USB Host/Device、RS-232、Remote | |
GPIB、LAN选配 | ||
电源需求 | 电压98Vac-132Vac或192Vac-264Vac | |
频率50/60Hz±5% | ||
液晶屏幕 | 7吋TFT,彩色显示(800*480) | |
操作环境 | 温度：0℃-40℃、湿度：20-80%RH | |
外观尺寸(W*H*D) | 430x132x370 mm | |
重量 | 7Kg | |
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