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天瑞Raman Dual-100双波长共焦拉曼光谱仪天瑞Raman Dual-100双波长共焦拉曼光谱仪是一款基于拉曼光谱原理，采用双波长激光（532nm/785nm）共焦技术设计的多功能快速物质识别仪。整机一体化设计，双波长共焦探头支持双波长实时同步测试、比对，无需切换探头或软件，轻松应对不同荧光背景的待测样品，获得拉曼信号。仪器可选配显微附件，拉曼探头与显微附件结合，显微光路与宏光路之间自由切换。

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2024-11-27

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天瑞OPA 1000在线电镀液分析仪天瑞OPA 1000在线电镀液分析仪基于元素分析的实时过程控制，满足检测制造铜箔过程中在线电镀液(液流)成分检测要求，最多可测试80多种化学元素，检测限从ppm水平到重量百分比(wt%)浓度。

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2024-11-27

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天瑞OES 1000（火花）光电直读光谱仪天瑞OES 1000（火花）光电直读光谱仪特别适用于测定黄金产品中微量元素的含量，天瑞仪器火花光电直读光谱仪的快速测试使研发、生产过程和质量更可控，帮助客户提升产品的技术和质量水平，使相关流程加快，为用户创造明显的经济效益和环保效益。

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2024-11-27

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天瑞Gem UV-100宝玉石光谱检测仪天瑞Gem UV-100宝玉石光谱检测仪基于光谱测量原理，通过不同宝玉石材料在紫外-可见-近红外波段的光谱吸收特征，对宝玉石种属、成因、及优化处理特征进行快速、无损检测。整机一体化设计，内置高性能嵌入式主机及高清电容触控屏；积分球和外置光纤探头双光路一键切，满足不同场景、不同形状及尺寸的样品测试需求。

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2024-11-27

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天瑞EDX-V X射线荧光镀层测厚仪天瑞EDX-V X射线荧光镀层测厚仪采用多导毛细管X射线光学系统,对于微米级尺寸电子零件、芯片针脚、晶圆微区等部件的镀层厚度和成分分析,能进行高效、准确的测量。

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2024-11-27

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天瑞EDX-T X射线荧光镀层测厚仪天瑞EDX-T X射线荧光镀层测厚仪该款仪器配置嵌入集成式多准直孔、滤光片自动切换装置和双摄像头,不仅能展现测试部位的细节,也能呈现出高清广角视野;自动化的X/Y/Z轴的三维移动,实现对平面、凹凸、拐角、弧面等各种形态的样品进行快速对焦精准分析。能更好地满足半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试需求。

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2024-11-27

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天瑞EDX4500H能量色散X荧光光谱仪天瑞EDX4500H能量色散X荧光光谱仪该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等关注的元素进行准确分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

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2024-11-27

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天瑞EDX3600能量色散X荧光光谱仪天瑞EDX3600能量色散X荧光光谱仪可准确无误地分析出黄金、铂金、银等饰品中金、银、铂、钯、铑、铜、铁、镍、锇、锌、铱的含量,测试结果符合国标GB-1887《首饰贵金属纯度的规定及命名方法》和GB/T-18043《贵金属首饰含量的无损检测方法X射线荧光光谱法》的要求。

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2024-11-27

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